Peralatan pemeriksaan sinar-X x5600 peralatan pengesanan kecacatan sinar-X titik fokus mikro kecil

dua komponen sinar-X adalah: sumber sinar-X dan pengesan. sumber sinar-X adalah Hamamatsu Jepun, dan pengesan adalah Rayence Korea Selatan. digunakan untuk pemeriksaan produk cip, BGA / CP, wafer, SOP / QFN, SMT dan pakej PTU, sensor, kapasitor, IGBT, fius, bahagian plastik, skrin

penyelidikan

gambaran keseluruhan
parameter
penyelidikan
produk berkaitan

x5600 adalah peralatan pemeriksaan sinar-x fokus mikro ketepatan kecil, sesuai untuk perusahaan R & D, makmal, bilik pemeriksaan kualiti dan lain-lain, ia adalah pilihan pertama untuk pemeriksaan sinar-x bahagian kecil.

acd38f0ed5803bc57200333e87bc385f19e44f803b56e320362443ef11594f28

Spesifikasi tiub sinar-X

Jenis tiub	refleksi bersegel mikro-fokus x-raytube
julat voltan	40-90kv
Julat elektrik	10-200 μa
kuasa output maksimum	8 w
saiz fokus mikro	5-15μm

Spesifikasi pengesan panel rata

jenis pengesan	pengesan panel rata silikon amorf
Matriks piksel	1536x1536
medan pandang	130mm x 130mm
resolusi	5.8lp/mm
bingkai (1x1)	20fps
bit penukaran iklan	16 bit

spesifikasi peralatan

dimensi	L850mmxw1000mmx1700mm
kuasa input	220v 10a 50-60hz
saiz sampel maksimum	280mm x 320mm
sistem operasi	Komputer perindustrian Win10 64bit
berat bersih	750kg