Peralatan Pemeriksaan X-RAY Spot Fokus Mikro Universal PLUS Model X6600

X6600 ialah peralatan pemeriksaan sinar-X titik fokus mikro ketepatan luar talian yang kos efektif dan serba boleh. Ia digunakan terutamanya dalam pemeriksaan semikonduktor, SMT, DIP dan komponen elektronik, meliputi pelbagai pakej seperti IC, BGA, CSP dan cip flip. Pemeriksaan jenis; ia juga boleh digunakan untuk pemeriksaan bahagian kereta, acuan die-casting aluminium, LED, bateri, industri fotovoltaik, dan industri khas seperti plastik acuan dan produk seramik. Peralatan pemeriksaan sinar-X boleh disesuaikan mengikut keperluan pelanggan.