Equip universal d'inspecció de raigs X puntuals de microenfocament PLUS model X6600

X6600 és un equip d'inspecció de raigs X puntual de precisió de microenfocament fora de línia rendible i versàtil. S'utilitza principalment en inspecció de semiconductors, SMT, DIP i components electrònics, cobrint diversos paquets com IC, BGA, CSP i flip-chip. Inspecció de tipus; també es pot utilitzar per a la inspecció de peces d'automòbils, motlles de fosa a pressió d'alumini, LED, bateries, indústries fotovoltaiques i indústries especials com plàstics modelats i productes ceràmics. Els equips d'inspecció de raigs X es poden personalitzar segons les necessitats del client.